Asi se shodneme, ze nahodnou slozku sumu prumerovanim vystredujeme, nelinearitu vykompenzujeme (pokud uz to neudelal vyrobce), kriticky parametr je tedy dlouhodoba stabilita (starnuti). Kravina prosim napr. zde, po minute googleni (Si dioda, ovsem vymazlena): http://www.lakeshore.com/products/Cryogenic-Temperature-Sensors/Silicon-Diodes/DT-670/Pages/Specifications.aspx
Konkretne: Long-term Stability, oblast mereni 305K, +-25mK po 200 teplotnich socich 305K / 77K. Po 670h peceni pri 500K pak +-50mK.
Ale opakuji, potrebujete mit prinejmensim stejne stabilni referencni system, jinak je to o nicem. Osobne pouzivam Pt RTD a pokud mate zajem, tak az naberu dost mesicu dat, podelim se i o opakovatelnost. S kratkodobou stabilitou jsem nekde na 0.1mK, ale to je nezajimave cislo.